測厚儀，thicknessgauge，是用來測量物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、紙張等）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有電容式厚度計等。而利用微波和激光技術制成厚度計，目前還處在研制、試驗階段。
　　
　　測厚儀可分為：X射線測厚儀，紙張測厚儀，薄膜測厚儀，涂層測厚儀，在線測厚儀，超聲測厚儀，壓力測厚儀，白光干涉測厚儀，電解式測厚儀，機械接觸式測厚儀。
　　
　　X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，達到要求的軋制厚度。主要應用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
　　
　　紙張測厚儀：適用于４mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
　　
　　薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
　　
　　涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
　　
　　超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。